NI PXIe-4145
NI PXIe-4145源测量单元(SMU)详细介绍
产品概述
NI PXIe-4145是一款高性能、多通道的源测量单元（Source Measure Unit，SMU），专为需要高精度、高速度测量的应用而设计。它能够同时充当电压源和电流源，并测量电压和电流，非常适合半导体器件的特性测试、电池测试、材料科学研究等领域。
产品特点
高精度测量:具有高分辨率和低噪声，能够精确测量小信号。
高速采样:高采样率支持快速动态测量，捕捉瞬态信号。
多通道同步:多通道同步测量，提高测试效率。
四象限操作:支持源和漏模式，适用于各种负载。
远程传感:每个通道集成远程（4线）传感功能，提高测量精度。
灵活编程:支持LabVIEW、MATLAB等多种编程环境，方便用户自定义测量序列。
PXIe-4145
NI PXIe-4145
产品参数
通道数:4
电压范围:±20V
电流范围:±1A
采样率:最高可达100kS/s
分辨率:20位
噪声:低
接口:PXI Express
PXIe-4145
产品规格
系列:NI PXIe系列
尺寸:符合PXI Express标准
工作环境:标准实验室环境
认证:CE,RoHS等
系列介绍
NI PXIe系列是NI公司推出的一系列模块化仪器平台，具有高性能、高可靠性、可扩展性等特点，广泛应用于测试测量、自动化控制等领域。PXIe-4145作为该系列中的一个重要成员，为用户提供了强大的测量功能。
作用与用途
半导体器件特性测试:用于测试晶体管、二极管等半导体器件的I-V特性曲线。
电池测试:用于测试电池的容量、内阻、充放电特性等。
材料科学研究:用于测量材料的电学特性，如电阻率、介电常数等。
电源测试:用于测试电源的输出电压、电流、纹波等。
应用领域
电子制造:半导体制造、电子产品测试
汽车电子:电池测试、电机控制
航空航天:电气系统测试
科研院所:材料科学研究、物理实验
