ZMI-2002 8020-0211-1-J

Description

ZYGO ZMI-2002 8020-0211-1-J

ZYGO ZMI-2002 8020-0211-1-J是一款高性能的双轴VME测量板，专为需要高精度、高可靠性测量的应用而设计。它广泛应用于光学、半导体、精密制造等领域，用于测量各种光学元件和表面的形貌、轮廓等参数。

双轴设计:提供两个独立的测量轴，可同时进行双轴测量，提高测量效率。

高精度:采用先进的测量技术，具有极高的测量精度和重复性。

VME接口:符合VME总线标准，可方便地集成到各种VME系统中。

灵活配置:提供多种配置选项，可根据不同的应用需求进行定制。

强大的软件支持:配备专业的测量软件，提供友好的用户界面和丰富的分析功能。

ZMI-2002 8020-0211-1-J

型号:ZMI-2002 8020-0211-1-J

品牌:ZYGO

类型:双轴VME测量板

测量范围:[具体参数，根据型号和配置而定]

测量精度:[具体参数，如纳米级]

接口:VME

操作系统支持:[具体支持的操作系统]

工作温度:[具体参数]

[注：具体参数请以产品说明书为准]

ZMI-2002属于ZYGO公司ZMI系列测量板产品。ZYGO公司是光学测量领域的领导者，其产品广泛应用于科研、工业等领域。

ZMI-2002 8020-0211-1-J

产品作用与用途

光学元件测量:测量镜片、透镜、棱镜等光学元件的表面形貌、轮廓等参数。

半导体测量:测量晶圆、芯片等半导体器件的表面形貌。

精密制造:测量精密机械零件的表面粗糙度、轮廓等。

光学制造:光学仪器、眼镜、相机镜头的生产。

半导体制造:芯片制造、封装测试。

科研:光学研究、材料科学研究。

精密制造:测量仪器制造、精密机械加工。